Specyfikacja techniczna
Maksymalny obszar pomiarowy: 220 x 600 mm
Maksymalna ilość kostek na arkuszu pomiarowym: 3000
Grubość mediów: maks. 0,7 mm
Aperura pomiarowa:
– R – 2 mm
– T – 2 mm
Prędkośc skanowania: approx. 10 min. dla 1248 pól
Najmniejszy krok skanowania: 0,2 mm
Geometria:
– R – 45°/0°
– T – d/0°
Kalibracja: automatyczna do wbudowanej bieli
Iluminant: type A
Czas pomiaru pojedyńczego pola: < 0,3 sekundy
Powtarzalność: < 0,2 ΔE94 na bieli lub ± 0,005D (maks. do 1.000 D)
Zgodność pomiędzy urządzeniami: typ 1 ΔE94
Czujnik pomiarowy: siatka dyfrakcyjna z tablicą diód
Rozdzielczość spektralna: 3, 5 nm
Zakres spektralny: 380 … 780 nm
Zmierzalny zakres gęstości: 0…2.5 D
Interfejs: USB dla Mac, PC i Linux
Wymiary: 500 x 240 x 11 0mm
Waga: 4 kg
Wymagany system: Microsoft Windows 2000 lub późniejszy, Mac OS X 10.4 lub późniejszy
Zawiera oprogramowanie: Profile-Xpert Gateway dla Mac i PC